高低溫沖擊應(yīng)力試驗箱

簡要描述：高低溫沖擊應(yīng)力試驗箱可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲存、低溫儲存功能；等均溫速率可設(shè)定范圍5℃～30℃/min（40℃）

所屬分類：熱應(yīng)力復(fù)合試驗箱

更新時間：2024-05-23

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

詳情介紹

品牌	SETH/賽思	價格區(qū)間	20萬-50萬
產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣

高低溫沖擊應(yīng)力試驗箱介紹：

為了仿真不同電子構(gòu)件，在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴格測試環(huán)境，縮短測試時間，降低測試費用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。賽思sethtest

高低溫沖擊應(yīng)力試驗箱特點：

1、可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲存、低溫儲存功能
2、等均溫速率可設(shè)定范圍5℃～30℃/min(40℃)/min
3、滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求
4、賽思采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實現(xiàn)低溫節(jié)能運行
5、賽思除霜周期三天除霜一次，每次只需1小時完成；
6、通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能
7、感測器放置測試區(qū)出（回）風(fēng)口符合實驗有效性
8、機臺多處報警監(jiān)測，配置無線遠程報警功能
9、水路和水位控制與電控系統(tǒng)隔離安裝，安全可靠性高(SETH產(chǎn)品)

滿足試驗標準：

GB/T2423.22-2002 試驗N：溫度變化試驗方法試驗Na
EIA-364-32 冷熱沖擊試驗
IEC6008-2-14 溫度變化
GJB 150.5-1986 溫度沖擊試驗
符合:MIL、IEC、JIS、IPC…應(yīng)力篩選RAMP（負載參見5.5.7，發(fā)熱負載≤50W）

產(chǎn)品&規(guī)范	廠商名稱	高溫	低溫	溫變率	循環(huán)數(shù)	循環(huán)時間	備注
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 電子產(chǎn)品應(yīng)力篩選	——	工作極限溫度	工作極限溫度	5℃/min	10～12	3h20min	——
MIL-344A-4-16 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選	設(shè)備或系統(tǒng)	71℃	-54℃	5℃/min	10	——	——
MIL-2164A-19 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法	——	工作極限溫度	工作極限溫度	10℃/min	10	——	駐留時間為內(nèi)部達到溫度10℃時
NABMAT-9492 美軍*制造篩選	設(shè)備或系統(tǒng)	55℃	-53℃	15℃/min	10	——	駐留時間為內(nèi)部達到溫度5℃時
GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南	組件	85℃	-55℃	15℃/min	≧25	——	達到溫度穩(wěn)定的時間
GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南	設(shè)備或系統(tǒng)	70℃	-55℃	5℃/min	≧10	——	達到溫度穩(wěn)定的時間
筆記本電腦	主板廠商	85℃	-40℃	15℃/min	——	——	——

溫控制斜率：

TSR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min]	30℃/min→	電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗
	28℃/min→	LED汽車照明燈
	25℃/min→	PCB的產(chǎn)品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng)
	24℃/min→	光纖連接頭
	20℃/min→	IPC－9701 、覆晶技術(shù)的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統(tǒng)&端子、改進導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命

	17℃/min→	MOTO
	15℃/min→	IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、汽車引擎蓋下環(huán)境)
	11℃/min→	無鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A
	10℃/min→	通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試
	5℃/min→	錫須溫度循環(huán)試驗

技術(shù)參數(shù)：

型號	SER-A	SER-B	SER-C	SER-D
內(nèi)箱尺寸 W x D x H cm	40×35×35	50×50×40	60×50×50	70×60×60
外箱尺寸 W x D x H cm	140×165×165	150×200×175	160×225×185	170×260×193
溫度范圍	-80.00℃～+200.00℃
低溫沖擊范圍	-10.00℃～-40℃//-55℃//-65.00℃
高溫沖擊范圍	+60.00℃～+150.00℃
時間設(shè)定范圍	0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment
溫度波動度	≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示）
溫度偏差	≤±2℃（-65℃～+150℃）
溫度均勻度	＜2.00℃以內(nèi)
溫變速率（斜率）	+5℃～+30℃/min(+40℃)
溫變范圍	-55℃～+85℃//+125℃